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工業顯微鏡
新的光學系統令 ECLIPSE煥發新風采
CFI60-2 經過改進的光學性能
以獨特的高數值孔徑和長工作距離設計理念而著稱的尼康 CFI60 光學系統
經過進一步改進,具有一流 的長工作距離、色差校正性能和更輕的重量。輕松的操作
與數碼相機集成 現可使用數碼控制裝置來檢測包括物鏡信息在內的顯微鏡信息,以及對顯微鏡進行電動操作,以更高效地進行觀察和圖像拍攝。
觀察方法
可支持多種觀察方法:明場、暗場、偏光、微分干涉、落射熒光和雙光束干涉測量觀察功能。此外,LV100DA和LV100DA-U還可提供透射型微分干涉、暗場、偏光和相襯觀察功能。